IEC 62276-2005 表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 23:55:46  浏览:8716   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Singlecrystalwafersforsurfaceacousticwave(SAW)deviceapplication-Specificationsandmeasuringmethods
【原文标准名称】:表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法
【标准号】:IEC62276-2005
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2005-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC49
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;定义;电气工程;测量方法;规范(验收);频率稳定;规范;表面声波;压电;声波;石英晶体;薄片;单晶;压电器件
【英文主题词】:Acousticwaves;Crystallattices;Crystals(electronic);Definitions;Electricalengineering;Electricalproperties;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Finishes;Frequencystabilization;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Piezoelectricdevices;Piezoelectricity;Quartzcrystals;Ratings;Singlecrystal;Specification;Specification(approval);Specifications;Surfaceacousticwavedevices;Surfaceacousticwaves;Testing;Wafers
【摘要】:ThisInternationalStandardappliestothemanufactureofsyntheticquartz,lithiumniobate(LN),lithiumtantalate(LT),lithiumtetraborate(LBO),andlanthanumgalliumsilicate(LGS)singlecrystalwafersintendedforuseassubstratesinthemanufactureofsurfaceacousticwave(SAW)filtersandresonators.
【中国标准分类号】:L21
【国际标准分类号】:31_140
【页数】:40P.;A4
【正文语种】:英语