IEC 60749-12-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动,可变频率

作者:标准资料网 时间:2024-05-01 06:07:38  浏览:9332   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part12:Vibration,variablefrequency
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动,可变频率
【标准号】:IEC60749-12-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;环境试验;试验;气候试验;半导体器件;机械试验;振动;电学测量;电子设备及元件;半导体;气候;电气工程;集成电路;电子工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Vibration
【摘要】:ThispartofIEC60749describesatesttodeterminetheeffectofvariablefrequencyvibration,withinthespecifiedfrequencyrange,oninternalstructuralelements.Thisisadestructivetest.Itisnormallyapplicabletocavity-typepackages.Ingeneral,thisvariablefrequencyvibrationtestisinconformitywithIEC60068-2-6but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语